半導體測試板 > probe card

        probe card

        產品簡介

        探針卡在CP測試中用于連接測試機和Die上的Pad,通常作為Loadboard的物理接口,在某些情況下ProbeCard通過插座或者其它接口電路附加 到Loadboard上。應用:晶元切割前,透過pc可以測試晶圓品質,避免不良產品產生封裝成本。

        應用流程

        關鍵能力

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